Универзитет у Београду - Рударско-геолошки факултет

Рударско-геолошки факултет

ПОЧЕТНА
ФАКУЛТЕТ
О факултету
Организација
Акредитација
Запослени
Сертификати
Издавачка делатност
Скриптарница
Акта
Алумни
Јавне набавке
Документа
Контакт
СТУДИЈЕ
Опште информације
Основне студије
Мастер студије
Докторске студије
Студентски парламент
Студентски живот
Ценовник
Дипломе
Обрасци
НАСТАВА
Наставно особље
Распоред наставе
Распоред испита
Календар
НАУКА
Пројекти
Центри и лабораторије
Истраживачи
Стипендије
Иновације и техничка решења
Научни скупови
Предмет
Обавештења
Резултати
Материјали

Рендгенска структурна анализа

Предавачи:
проф. др Александар Кременовић
Студијски програм:
МКПГ (IX семестар -DAS)    ЕСПБ бодови: 5    Статус: Изборни
Услов: -
Циљ предмета:
Упознавање са основним принципима и појмовима рендгенске структурне анализе, са различитим инструменталним и структурним факторима који утичу на експерименталне податке, са избором одговарајуће методе испитивања. Учење о типским структурама различитих једињења и о решавању непознатих кристалних структура користећи методе рендгенске структурне анализе.
Исход предмета:
Током овог курса студенти ће научити да: одреде просторну групу и садржај јединичне ћелије кристала, трансформишу осе и исходиште јединичне ћелије, координате атома и индексе рефлексија, одреде једноставније кристалне структуре из података добијених дифракцијом рендгенских зрака на монокристалу, интерпретирају резултате, опишу и прикажу структуру, користе различите кристалографске програме и методе за решавање структура монокристала, користе кристалографске базе података.
Садржај предмета:

Теоријска настава
Увод у симетрију и рендгенску дифракцију. Одређивање просторних група и систематска гашења рефлексија. Садржај јединичне ћелије. Веза између кристалне структуре и њене дифракционе слике. Низови еквидистантних равни у кристалу и Милерови индекси. Лауеови и Брагови услови за дифракцију. Реципрочна решетка. Евалдова сфера. Брагов закон. Индицирање рефлексија. Структурни фактор. Атомски фактор расипања. Идеални и реални кристали. Теорија прикупљања и кориговања интензитета. Фактори за корекцију интензитета: Лоренцов фактор, поларизациони фактор, апсорпциони фактор, фактор екстинкције, корекција за распадање кристала, мултиплицитет. Трансформација оса јединичне ћелије, индекса рефлексија, координата и реципрочних оса, исходишта. Фуријеове трансформације и синтезе. Ток одређивања структуре кристала. Патерсонова метода. Директне методе: метода слагања симбола и мултиваријантна метода. Метода најмањих квадрата. Интерпретација и приказивање резултата. Кисталографски информациони фајл CIF. Кристалографске базе података: типови база и претраживања, расположиве информације.

Практична настава
Практичхе вежбе прате предавања.

Литература:
  1. Karanović Lj., Poleti, D., (2003) Rendgenska strukturna analiza, ZUNS, Београд
  2. Giacovazzo C., Monaco H. L., Viterbo D., Scordari F., Gilli G., Zanotti G., Catti M., (1995) Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press, Oxford.
Метода извођења наставе:
Класична предавања биће испраћена аудио-визуелним методама.
Фонд:
Предавања Вежбе Други облици наставе Студијски истраживачки рад
2 2 0 0
Оцена знања:
Завршни испит Поена
Писмени испит35
Усмени испит35

Предиспитне обавезе Поена
Активност у току предавања30
Додатни услови оцењивања: -