Универзитет у Београду - Рударско-геолошки факултет

ПОЧЕТНА
ФАКУЛТЕТ
О факултету
Организација
Акредитација
Запослени
Сертификати
Издавачка делатност
Скриптарница
Акта
Алумни
Јавне набавке
Документа
Контакт
СТУДИЈЕ
Опште информације
Основне студије
Мастер студије
Докторске студије
Ценовник
Дипломе
Обрасци
НАСТАВА
Наставно особље
Распоред наставе
Распоред испита
Календар
НАУКА
Пројекти
Центри и лабораторије
Истраживачи
Стипендије
Иновације и техничка решења
Научни скупови
Предмет
Обавештења
Резултати
Материјали

Скенирајућа електронска микроскопија са микроаналитиком

Студијски програм:
Минералогија и кристалографија (VII семестар -DAS)
Назив предмета: Скенирајућа електронска микроскопија са микроаналитиком
Предавачи:
проф. др Сузана Ерић, проф. др Александар Пачевски
Статус предмета: Изборни
ЕСПБ бодови: 5
Услов: -
Циљ предмета:
Стицање знања и вештине у раду са једнoм од неопходних савремених аналитичких метода (SEM/EDS/WDS)
Исход предмета:
Оспособљавање за директан практични рад на SEM/EDS/WDS-у, од припреме узорака, преко директне обсервације до приказа аналитичких података.
Садржај предмета:

Теоријска настава
Основни принципи електронске микроскопије - увод; Функција важних делова скенирајућег електронског микроскопа; Припрема различитих врста узорака и наношење на носаче; Основни принципи напаривања (злато, угљеник); Постизање вакума, уношење и промена узорка, SEI и BSC слике; EDS/WDS - анализа; Неполирани узорци - квалитативне и семиквантитивне анализе, унутрашњи стандарди; Спољашњи стандарди; Полирани узорци - тачкаста и линијска квантитативна анализа; Мапирање; Аналитичке грешке; Приказ аналитичких података; Катодолуминесценција - циркон и друге минералне врсте;

Практична настава
Практичне вежбе у лабораторији за скенирајућу електронску микроскопију од припреме материјала преко директног мерења до приказа и обраде резултата.

Литература:
  1. P.Echlin, 2009, Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, 200p
  2. S.J.B. Reed, 2005, Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
  3. J.I.Goldstein, at al., 2003, Scanning Elecrton Microscopy and X-Ray Microanalysis, New York, 689
Метода извођења наставе:
Теоријска настава: Интерактивна уз Power Point презентације сваке наставне јединице; Практична настава: Непосредан рад у лабораторији за скенирајућу електронску микроскопију.
Фонд:
Предавања Вежбе Други облици наставе Студијски истраживачки рад
2 2 0 0
Оцена знања:
Завршни испит Поена
Усмени испит30

Предиспитне обавезе Поена
Активност у току предавања10
Практична настава30
Колоквијуми30
Додатни услови оцењивања: -
Библиотека
Издавачка делатност
Скриптарница

Пројекти