Универзитет у Београду - Рударско-геолошки факултет

Рударско-геолошки факултет

ПОЧЕТНА
ФАКУЛТЕТ
О факултету
Организација
Акредитација
Запослени
Сертификати
Издавачка делатност
Скриптарница
Акта
Алумни
Јавне набавке
Документа
Контакт
СТУДИЈЕ
Опште информације
Основне студије
Мастер студије
Докторске студије
Студентски парламент
Студентски живот
Ценовник
Дипломе
Обрасци
НАСТАВА
Наставно особље
Распоред наставе
Распоред испита
Календар
НАУКА
Пројекти
Центри и лабораторије
Истраживачи
Стипендије
Иновације и техничка решења
Научни скупови
Предмет
Обавештења
Резултати
Материјали

Рендгенска структурна анализа

Предавачи:
Студијски програм:
Минералогија и кристалографија (VIII семестар -DAS)    ЕСПБ бодови: 5    Статус: Изборни
Петрологија и геохемија (VII семестар -DAS)    ЕСПБ бодови: 5    Статус: Изборни
Услов: Кристалографија, Кристалохемија
Циљ предмета:
Циљ овог предмета је упознавање са основним принципима и појмовима рендгенске структурне анализе, са различитим инструменталним и структурним факторима који утичу на експерименталне податке, са избором одговарајуће методе испитивања, учење о типским структурама различитих једињења и о решавању непознатих кристалних структура користећи методе рендгенске структурне анализе.
Исход предмета:
Током овог курса студенти ће научити да: • одреде просторну групу и садржај јединичне ћелије кристала • трансформишу осе и исходиште јединичне ћелије, координате атома и индексе рефлексија • одреде једноставније кристалну структуру из података добијених дифракцијом рендгенских зрака на монокристалу • интерпретирају резултате, опишу и прикажу структуру • користе различите кристалографске програме и методе за решавање структура монокристала • користе кристалографске базе података.
Садржај предмета:
Теоријска настава Увод у симетрију и рендгенску дифракцију. Одређивање просторних група и систематска гашења рефлексија. Садржај јединичне ћелије. Веза између кристалне структуре и њене дифракционе слике. Низови еквидистантних равни у кристалу и Милерови индекси. Лауеови и Брагови услови за дифракцију. Реципрочна решетка. Евалдова сфера. Брагов закон. Индицирање рефлексија. Структурни фактор. Атомски фактор расипања. Идеални и реални кристали. Теорија прикупљања и кориговања интензитета. Фактори за корекцију интензитета: Лоренцов фактор, поларизациони фактор, апсорпциони фактор, фактор екстинкције, корекција за распадање кристала, мултиплицитет. Трансформација оса јединичне ћелије, индекса рефлексија, координата и реципрочних оса, исходишта. Фуријеове трансформације и синтезе. Ток одређивања структуре кристала. Патерсонова метода. Директне методе: метода слагања симбола и мултиваријантна метода. Метода најмањих квадрата. Интерпретација и приказивање резултата. Кисталографски информациони фајл CIF. Кристалографске базе података: типови база и претраживања, расположиве информације.
Практична настава:Вежбе, Други облици наставе, Студијски истраживачки рад? Вежбе се одржавају према истим методским јединицама.
Литература:
  1. Karanović Lj., Poleti, D., Rendgenska strukturna analiza, ZUNS 2003
  2. ;
  3. Woolfson, M. M., An Introduction to X-ray Crystallography, Cambridge University Press, Cambridge, 1978
  4. ;
  5. Cullity B. D., Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley Publishing Company, Reading, 1978
  6. ;
  7. Massa, W., Crystal Structure Determination, Springer, 2004
  8. .
  9. Giacovazzo C., Monaco H. L., Viterbo D., Scordari F., Gilli G., Zanotti G., Catti M., Fundamentals of Crystallography, Oxford University Press, Oxford, 1995
  10. ;
  11. Stout G. H., Jensen L. H., X-ray Structure Determination, a Practical Guide, Wiley, New York, 1989
Метода извођења наставе:
Студенти ће учити из предавања, вежби, задатака и семинара
Фонд:
Предавања Вежбе Други облици наставе Студијски истраживачки рад
2 2 0 0
Оцена знања:
Завршни испит Поена
40

Предиспитне обавезе Поена
10
30
20
Додатни услови оцењивања: